| Titre : | Etude par les mesures spectroscopiques de la croissance du silicium micro et nanocristallins déposes par PECVD et par pulvérisation cathodique magnétron radiofréquence (RFMS) |
| Auteurs : | Mokhtar Boudjelal, Auteur ; Abdelkader Belfedal, Directeur de thèse |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Mascara : Université Mustapha Stambouli, 2012 |
| Format : | 109 p. / Fig. / 30 cm. |
| Note générale : | Magister |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 540 (Chimie - minéralogie) |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| bc1559th | 540TH 84 | Thèse | Bibliothèque centrale | Magasin sciences technologie | Libre accès Disponible |
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