| Titre : | Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Auteurs : | Claude Esnouf |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011. |
| Collection : | METIS Lyon Tech |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-884-5 |
| Format : | 1 vol. (XVI-579 p.) / ill., couv. ill. / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 620.1 (Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Microstructure.Rayons X.Cristallographie |
Exemplaires (2)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| bst004877 | 620.1 ESN- 115 | Livre | Bibliothèque Sciences et Technologies | Génie mécanique | Consultation sur place Exclu du prêt |
| bst004876 | 620.1 ESN- 115 | Livre | Bibliothèque Sciences et Technologies | Génie mécanique | Libre accès Disponible |
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