| Titre : | Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée. vol. 2 |
| Auteurs : | Pierre Richard Dahoo, Auteur ; Philippe Pougnet, Auteur ; Abdelkhalak El Hami, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | London : ISTE ed., 2016 |
| Collection : | Collection génie mécanique et mécanique des solides |
| Sous-collection : | Série fiabilité des systèmes multiphysiques |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-1-78405-165-5 |
| Format : | 289 p. / ill., couv., en coul. / 24 cm |
| Note générale : | Bibliogr., Index |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 620.1 (Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux) |
| Catégories : |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| bst005421 | 620.1 DAH - 441 | Livre | Bibliothèque Sciences et Technologies | Génie mécanique | Consultation sur place Exclu du prêt |
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